什么是臺(tái)式掃描電鏡，小編給大家介紹一下掃描電子顯微鏡。

1930年代和1940年代，除透射電子顯微鏡外，其他類(lèi)型的電子顯微鏡，如掃描、發(fā)射、反射、場(chǎng)發(fā)射等也相繼在德國(guó)提出和試驗(yàn)。 經(jīng)過(guò)一段時(shí)間的斷斷續(xù)續(xù)，掃描電鏡再次受到關(guān)注，在解決了一些關(guān)鍵技術(shù)問(wèn)題后，發(fā)展迅速。 他可以直接觀察塊狀物質(zhì)的表面，并提供具有很強(qiáng)三維效果的圖像。 因此，在科研和工業(yè)中得到了廣泛的應(yīng)用。 它已成為生產(chǎn)量很高的電子顯微鏡。接下來(lái)澤攸科技小編帶大家深入探討一下，什么是掃描電子顯微鏡。
掃描電子顯微鏡（SEM）是介于透射電子顯微鏡和光學(xué)顯微鏡之間的一種觀察方法。 它利用聚焦的很窄的高能電子束對(duì)樣品進(jìn)行掃描，通過(guò)電子束與物質(zhì)的相互作用，激發(fā)各種物理信息，對(duì)信息進(jìn)行采集、放大、再成像，以觀察表征物質(zhì)的微觀形態(tài)。

掃描電子顯微鏡基本的功能仍然是放大鏡的功能，它實(shí)現(xiàn)了人眼和光學(xué)顯微鏡無(wú)法觀察到的樣品更詳細(xì)的特征。 廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)研究、生物學(xué)、工業(yè)制造等領(lǐng)域。

ZEM臺(tái)式掃描電子顯微鏡

掃描電子顯微鏡的制造是基于電子和物質(zhì)的相互作用。 當(dāng)一束高能入射電子轟擊材料表面時(shí)，激發(fā)區(qū)會(huì)產(chǎn)生二次電子、俄歇電子、特征X射線和連續(xù)譜X射線、背散射電子、透射電子以及可見(jiàn)光、紫外光和紅外光。 該區(qū)域產(chǎn)生的電磁輻射。 同時(shí)，還可以產(chǎn)生電子-空穴對(duì)、晶格振動(dòng)（聲子）和電子振蕩（等離子體）。 原則上，可以利用電子與物質(zhì)的相互作用來(lái)獲得被測(cè)樣品本身的各種物理化學(xué)性質(zhì)，如形貌、成分、晶體結(jié)構(gòu)、電子結(jié)構(gòu)、內(nèi)部電場(chǎng)或磁場(chǎng)等。

掃描電子顯微鏡對(duì)我們來(lái)說(shuō)似乎有點(diǎn)陌生，但它存在于我們的生活中。 我們需要進(jìn)一步了解它，才能更好地利用它為人類(lèi)創(chuàng)造價(jià)值。 希望今天小編介紹的關(guān)于什么是掃描電子顯微鏡的內(nèi)容能給您的生活帶來(lái)更多的幫助，從而在生活中取得進(jìn)步。

文章來(lái)源：麥迪森Madison