那我們該如何根據(jù)樣品類型以及所關注的問題選擇合適的掃描電鏡條件呢？

常規(guī)拍攝需要注意的問題

sem掃描電鏡的工作條件包括很多，加速電壓、束流束斑、工作距離、光闌大小、明暗對比度、探測器的選擇等。前幾期我們已經(jīng)介紹過加速電壓、束斑束流、工作距離該如何根據(jù)實際應用需求選擇。

本期將為大家繼續(xù)介紹明暗對比度、不同探測器對掃描電鏡拍攝的影響。

明暗對比度的影響

一張清晰的sem掃描電鏡照片需要有適中的明暗對比度，可以利用掃描電鏡軟件中的直方圖工具來進行明暗對比度的判斷。

一張明亮對比適中的圖片，需要暗處、亮處、中間灰度均有分布，直方圖從中間到兩邊類似正態(tài)分布。

當圖像亮度過亮、過暗都會導致另一端沒有灰度信息，導致圖像信息損失。對比度的調節(jié)希望整個灰度分布恰好覆蓋大部分區(qū)域。

在開始掃描的時候盡量將明暗對比度調節(jié)至合適的條件，如果一開始明暗對比不適合，利用軟件自帶的處理工具可以對圖像進行優(yōu)化。

探測器的選擇

場發(fā)射掃描電鏡如果配置齊全包括SE、InBeam-SE、BSE、InBeam-BSE、STEM-BF、STEM-DF六個獨立的探測器，前面已經(jīng)在sem掃描電鏡結構中簡單介紹了各個探測器的原理和特點。在平時拍攝時，選擇不同的探測器也會獲得不同的效果。

①SE和BSE探測器的對比

SE和BSE分別是旁置式電子探測器和級靴下探測器，前者接收二次電子和部分低角背散射電子，后者接收大部分低角背散射電子探測器。所以從圖像效果來說，SE探測器的圖像以形貌襯度為主，立體感強，兼有少量的成分襯度；BSE探測器的圖像以成分襯度為主，兼有一定的形貌襯度。

②SE與InBeam-SE探測器的對比

SE和InBeam-SE探測器相比，前者在側方，具有陰影效應，可以形成強烈的立體感，而后者位于正上方，不會受任何形貌的遮擋，立體感較差。

SE探測器接收SE1、SE2、SE3和部分BSE信號，分辨率相比只收集SE1的InBeam SE探測器要低

對于一些凹坑處的觀察，由于InBeam-SE探測器在上方?jīng)]有遮擋，所以會比SE探測器有更多的信號量，InBeam-SE探測器更適合做凹陷區(qū)域的觀察

③BSE與InBeam-BSE探測器的對比

BSE探測器主要采集低角背散射電子，InBeam-BSE探測器采集高角背散射電子，前者兼有成分和形貌襯度，后者相對來說成分襯度占主要部分，形貌襯度相對較弱。不過后者接收的電子信號量小于前者，所以信噪比也不如前者

對于能觀察到通道襯度的平整樣品來說，BSE探測器顯然有更好的通道襯度，更有利于晶粒的區(qū)分

④STEM探測器的應用

電子束轟擊到試樣上形成水滴狀的散射，但當試樣足夠薄時，電子束的散射面積還沒有擴大就已經(jīng)透射樣品，所以此時各種信號的分辨率較常規(guī)樣品更高，STEM探測器也有更好的分辨率。

STEM探測器由于需要樣品經(jīng)過特殊的制樣，雖然在掃描掃描電鏡中不常用，但是卻有著所有探測器中高的分辨率。當二次電子和背散射電子探測器分辨率都達不到要求時，可以嘗試STEM探測器。

此外，對于一些納米級的小顆粒，因為團聚厲害，二次電子即使在低電壓下也難以將其區(qū)分，且分辨率也不好，而STEM探測器通過透射電子來進行成像，對小顆粒的區(qū)分能力要強于其它探測器。

sem掃描電鏡中的STEM探測器雖然分辨率是高的，但是和透射掃描電鏡的分辨率相比還是相形見絀。不過掃描電鏡的電壓要遠小于透射掃描電鏡，所以sem掃描電鏡的STEM相比TEM有著更好的質厚襯度。所以對一些不是非常注重橫向分辨率，但特別注重質厚襯度的樣品，如一些生物樣品、石墨烯等，掃描電鏡的STEM探測器可以表現(xiàn)出更大的優(yōu)勢。

⑤多探測器同時成像

sem掃描電鏡具有四個獨立的通道放大器，可以進行四個探測器的同時成像。如果分辨不清楚用何種探測器時，可以選擇多種探測器同時成像。然后在軟件中將需要的圖像進行通道分離。