鐵磁性，順磁性，逆磁性估計(jì)是不用我再科普了。反鐵磁性，亞鐵磁性在電子光學(xué)領(lǐng)域，不用深入研究。我們強(qiáng)調(diào)一個(gè)概念。沒有什么材料，不能用電鏡測試。磁性粉末，可以。高分子，也沒問題。解答問題之前，先讓我讓我說幾個(gè)都稱不上實(shí)驗(yàn)安全原則和實(shí)驗(yàn)規(guī)范的道理吧。

1.你為什么要做？換到實(shí)驗(yàn)上來說，這個(gè)實(shí)驗(yàn)，你為什么要做？

做事，自然是滿足自己，對自己有好處才做。做實(shí)驗(yàn)，自然能出表征結(jié)果，才去做掃描電鏡。（試錯(cuò)也是實(shí)驗(yàn)結(jié)果之一）

2.會不會有風(fēng)險(xiǎn)？換到實(shí)驗(yàn)上來說，也就是做這個(gè)實(shí)驗(yàn)，會不會造成人身財(cái)產(chǎn)損失？

做什么事沒有風(fēng)險(xiǎn)？換到實(shí)驗(yàn)上，也是一樣。用sem掃描電鏡，自然是可能對大型儀器設(shè)備造成損壞了。

3.如果有風(fēng)險(xiǎn)，風(fēng)險(xiǎn)是否能夠規(guī)避或者降低？如果不能規(guī)避或降低，那投入和產(chǎn)出是否成正比？

我們都在尋找減小風(fēng)險(xiǎn)的方案。如果目前還是摸著石頭過河，那可能造成的不良后果，我們早早也就做好心理建設(shè)了。

回到問題上來。為什么掃描電鏡不能測試具有磁性的粉末樣品？（至少題主，亦或是題主的老師什么的，強(qiáng)調(diào)過不能。）

咱還是按照前三個(gè)方面分析這件事。

1.為什么要用sem掃描電鏡表征磁性樣品？是為了看到磁籌？還是表征粒度？不得而知。強(qiáng)調(diào)磁性粉末，那自然是順磁性樣品。但是，考慮到磁場與電子束的相互作用。二次電子，被散射電子，都是經(jīng)過樣品磁場扭曲后，才被探頭接收后成像的。所以，像普遍都是失真的。

2.用掃描電鏡表征磁性粉末，會不會有什么不良后果？這自然是有的。sem掃描電鏡都有合適的工作距離。樣品距離所謂極靴越近，自然分辨能力就越高?？紤]到電子槍發(fā)射出的電子，一般由磁場匯聚。那當(dāng)你的樣品，也就是磁性粉末，距離極靴強(qiáng)磁場越近，那自然可能會被吸附到極靴上。之后，電子束有可能會匯聚不良，有可能不會，這取決于樣品磁性大小，吸附位置等。

3.重頭戲來了。能不能不讓樣品被吸附到極靴上？如果吸附上了，那后果你能不能接受？

盡可能不被吸附到極靴上，自然可以?？梢岳冒瘢倶觼肀苊鈽悠繁晃?。同時(shí)增大工作距離。但是帶來的后果是，處理過的樣品，和你原始的樣品理化性質(zhì)不能說完全不一樣，也是不盡相同。增大工作距離，分辨能力下降。

如果不幸吸附上了，拆機(jī)、清理是少不了。但可能清理不干凈。精密儀器拆解過，重新安裝，總會有些許誤差。

這些風(fēng)險(xiǎn)你如果都能接受，沒問題。但是，你能接受的，分管儀器設(shè)備的人員，他不一定能接受。再考慮到順磁性樣品圖像失真，這實(shí)驗(yàn)結(jié)果，你都不一定能接受，更何況你還得承擔(dān)風(fēng)險(xiǎn)。

塊狀樣品就占了個(gè)不容易被吸到極靴上的優(yōu)勢，但不容易不代表不會被吸到極靴上。順磁，塊狀一樣的失真……