臺(tái)式掃描電鏡由電子光學(xué)系統(tǒng)、信號(hào)收集及顯示系統(tǒng)、真空系統(tǒng)及電源系統(tǒng)組成。

電子光學(xué)系統(tǒng)：電子光學(xué)系統(tǒng)由電子槍、電磁透鏡、掃描線圈和樣品室等部件組成。其作用是用來獲得掃描電子束，作為使樣品產(chǎn)生各種物理信號(hào)的激發(fā)源。

電子槍：其作用是利用陰極與陽極燈絲間的高壓產(chǎn)生高能量的電子束。

電磁透鏡：其作用是把電子槍的束斑逐漸聚焦縮小，使原來直徑約50um的束斑縮小成一個(gè)只有數(shù)nm的細(xì)小束斑。

掃描線圈：其作用使電子束進(jìn)入末級(jí)透鏡強(qiáng)磁場區(qū)前就發(fā)生偏轉(zhuǎn)。

臺(tái)式掃描電鏡的試樣準(zhǔn)備：

在SEM掃描電鏡中檢測的試樣，其準(zhǔn)備工作十分簡便。對導(dǎo)電體試樣，可以不做任何預(yù)處理，只要其大小形狀適合試樣室，即可置入儀器試樣室檢測。對非導(dǎo)電體試樣，則在置入試樣室前，要在真空鍍膜機(jī)中對其待測表面噴鍍一薄層導(dǎo)電物質(zhì)，常用的是金或碳。

為了觀察到復(fù)合材料界面區(qū)的二次電子像，應(yīng)用某種方法將材料的界面區(qū)域暴露于試樣表面。例如：

將纖維增強(qiáng)復(fù)合材料中的纖維拉出，暴露出纖維表面和原先與纖維相結(jié)合的基體表面，這是受到或多或少損壞的界面。

另一個(gè)常用的方法是對復(fù)合材料施力，使其沿設(shè)定的方向斷裂。對脆性材料，可在常溫下實(shí)施；而對韌性復(fù)合材料，可用冷凍斷裂法，在液氮溫度下將材料脆性斷裂，暴露出包含基體、增強(qiáng)體和界面的區(qū)域。

還有一種方法是將暴露了界面區(qū)的端面或斷裂面，在超薄切片機(jī)上用金剛石刀或玻璃刀切平。

亦或者磨平拋光，隨后使用蝕刻法，使試樣端面結(jié)構(gòu)不同或成分不同的區(qū)域有著不同程度的蝕刻，形成形貌上的差異。