掃描電鏡和透射電鏡是常用的兩種顯微鏡，它們分別采用不同的原理和應(yīng)用于不同的場(chǎng)景中。

掃描電鏡（Scanning Electron Microscope，SEM）利用電子束與樣本表面的相互作用產(chǎn)生的信號(hào)來(lái)形成圖像。它通過(guò)掃描電子束在樣本表面上的移動(dòng)，檢測(cè)到由反射、散射以及二次電子排出所產(chǎn)生的信號(hào)，并通過(guò)電子光學(xué)系統(tǒng)轉(zhuǎn)換成圖像。掃描電鏡適用于觀察樣本表面的形貌特征，可以提供高分辨率的表面形貌圖像。它在材料科學(xué)、生物學(xué)、納米技術(shù)等領(lǐng)域有著廣泛的應(yīng)用。

透射電鏡（Transmission Electron Microscope，TEM）則是利用電子束穿過(guò)樣本內(nèi)部的原理來(lái)形成圖像。樣本被制備成非常薄的切片，并置于電子束的傳輸區(qū)域，從而使電子束透過(guò)樣本，形成投射圖像。透射電鏡具有很高的分辨率，在觀察材料晶體結(jié)構(gòu)、原子排列等方面具有非常重要的作用。它廣泛應(yīng)用于材料科學(xué)、凝聚態(tài)物理學(xué)、生命科學(xué)等領(lǐng)域中。

掃描電鏡和透射電鏡的主要區(qū)別在于其工作原理和應(yīng)用場(chǎng)景不同。掃描電鏡適用于觀察物體表面形貌特征，可以提供高分辨率的表面圖像；而透射電鏡主要用于觀察樣本內(nèi)部的結(jié)構(gòu)和原子排列等，可以提供高分辨率的截面圖像。兩者在不同的科學(xué)領(lǐng)域和應(yīng)用中各有優(yōu)勢(shì)，對(duì)于理解和研究微觀世界起著重要作用。

掃描電鏡和透射電鏡是兩種常用的顯微鏡，它們的工作原理和應(yīng)用場(chǎng)景有著明顯不同。這兩種顯微鏡在科學(xué)研究中都發(fā)揮著重要的作用，為我們揭示微觀世界的奧秘。