SEM掃描電鏡（Scanning Electron Microscope）是一種通過掃描樣品表面并檢測所產(chǎn)生的信號來獲取樣品微觀形貌和成分信息的儀器。它屬于電子顯微鏡的一種，與傳統(tǒng)的透射電子顯微鏡相比，其主要特點(diǎn)是能夠獲得樣品表面的高分辨率圖像，并能夠同時(shí)分析樣品的元素組成。

根據(jù)SEM的工作原理和應(yīng)用領(lǐng)域的不同，可以將SEM分為以下幾個(gè)類別：

1. 傳統(tǒng)掃描電鏡（Conventional SEM）：傳統(tǒng)SEM使用電子束來掃描樣品表面，并通過檢測來自樣品表面的二次電子、反射電子或能量散射電子等信號，以獲得樣品表面的形貌信息。該類別的SEM通常具有較高的分辨率和較寬的工作距離，廣泛應(yīng)用于物理、材料、生命科學(xué)等領(lǐng)域的樣品表面形貌和微觀結(jié)構(gòu)分析。

2. 環(huán)境掃描電鏡（Environmental SEM）：環(huán)境SEM是在對樣品進(jìn)行真空處理之前或期間，通過在SEM的樣品室中維持一定的濕度和氣氛條件來觀察樣品的形貌和表面性質(zhì)。該類別的SEM可以在接近真實(shí)環(huán)境下對樣品進(jìn)行觀察，適用于生物樣品、濕潤樣品以及對水分敏感的樣品等。

3. 高分辨率掃描電鏡（High-resolution SEM）：高分辨率SEM通過使用更高的電子能量和更高的波長來提高圖像的分辨率。它通常具有更高的分辨率、更好的深度信息和更高的表面靈敏度，可以更清晰地觀察樣品的細(xì)微結(jié)構(gòu)和表面形態(tài)。

SEM掃描電鏡在科學(xué)研究、材料分析、制造業(yè)、生命科學(xué)等領(lǐng)域具有廣泛的應(yīng)用。它可以用于研究納米級顆粒、晶體表面形貌、材料的結(jié)構(gòu)和成分分析、生物細(xì)胞和組織的形態(tài)觀察等。

SEM掃描電鏡是一種用于觀察樣品微觀形貌和成分分析的重要工具，根據(jù)其工作原理和應(yīng)用領(lǐng)域的不同，可以分為傳統(tǒng)掃描電鏡、環(huán)境掃描電鏡和高分辨率掃描電鏡等類別。它在科學(xué)研究和產(chǎn)業(yè)應(yīng)用中發(fā)揮著重要的作用，為我們深入了解和研究微觀世界提供了強(qiáng)大的支持。